УДК 621.391
Математические модели рядов предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов
Ясинский С. А., Малиновский И. И.
Читать статью полностью
Математические модели рядов предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов(778,01 KB) Ссылка для цитирования:
Ясинский, С. А. Математические модели рядов предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов / С.А. Ясинский, И.И. Малиновский // Информация и Космос. – 2025. – № 3. – С. 13–17.
Аннотация
В статье предлагаются общие и частные математические модели действующих и альтернативныx рядов предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов в схемах радиоэлектронной аппаратуры и электротехники. В предложенных математических моделях используется рекуррентное свойство золотого сечения, которое в сравнении с действующими моделями позволяет обеспечивать эквивалентную замену
любого номинала элемента на два элемента с иными номиналами путем их последовательного или параллельного соединения. Полученный эффект взаимозаменяемости элементов в рядах предпочтительных значений позволят повысить ремонтопригодность изделий и более эффективно решать проблему импортозамещения в электросвязи.
Ключевые слова:
ряды предпочтительных значений – series of preferred values; золотое сечение – golden ratio; геометрическая прогрессия – geometric progression; резисторы – resistors; конденсаторы – capacitors; математические модели – mathematical models.
Список литературы
1. ГОСТ 28884–90 (МЭК 63-63). Ряды предпочтительных значений для резисторов и конденсаторов. – Москва : Стандартинформ, 2006. – 8 с.
2. IEC 60063:2015. Preferred number series for resistors and capacitors, 2015. – 9 p.
3. Ясинский, С. А. Альтернативные ряды предпочтительных значений для пассивных электронных элементов / С.А. Ясинский // Электросвязь. – 2025. – № 5. – С. 19–24.
4. Воробьев, Н. Н. Числа Фибоначчи / Н.Н. Воробьев. – Москва : Наука, 1969. – 112 с.
5. Ясинский, С. А. «Золотое» сечение в стандартизации и теории измерения / С.А. Ясинский. – Санкт-Петербург : ВАС им. С.М. Буденного, 2008. – 160 с.
6. ГОСТ 8032–84 (СТ СЭВ 3961–83). Предпочтительные числа и ряды предпочтительных чисел. – Москва : Издательство стандартов, 1984. – 16 с.
7. Ежов, В. Проблемы и перспективы развития отечественной пассивной электронной компонентной базы / В. Ежов // Электроника: Наука, технология, бизнес. – 2019. – № 3 (184). – С. 44–49.
8. Мотало, Р. В. Импортозамещение на рынке электронных компонентов / Р.В. Мотало, А.Н. Брагин // Известия Тульского государственного университета. Технические науки. – 2023. – Вып. 1. – С. 27–29.
9. Харченко, В. А. Проблемы надежности электронных компонентов / В.А. Харченко // Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники. – 2015. – Т. 18, № 1. – C. 52–57.
10. Тюрин, С. Ф. Статическая оперативная память на основе отказоустойчивой ячейки базового матричного кристалла / С.Ф. Тюрин // Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. – 2016. – № 17. – С. 16–27.
11. Тюрин, С. Ф. Отказоустойчивая программируемая логическая матрица / С.Ф. Тюрин, А.С. Прохоров // Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. – 2017. – № 23. – С. 45–58.
12. Каменских, А. Н. Разработка библиотеки высоконадежных элементов на основе резервирования на транзисторном уровне / А.Н. Каменских // Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. – 2021. – № 37. – С. 153–167.
13. Бурдышев, И. В. Анализ методов повышения надежности цифровых устройств / И.В. Бурдышев, С.Ф. Тюрин // Вестник Пермского национального исследовательского политехнического университета. Электротехника, информационные технологии, системы управления. – 2022. – № 41. – С. 52–70.